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二手儀器安捷倫串聯(lián)四極桿電感耦合等離子體質譜儀 ICP-MS 8900

產(chǎn)品簡介:質譜儀安捷倫Agilent 8900 串聯(lián)四極桿 ICP-MS (ICP-MS/MS) 是行業(yè)中成功且應用廣泛的串聯(lián)電感耦合等離子體質譜儀。安捷倫Agilent 8900 ICP-MS/MS 提供了一系列配置,適合從常規(guī)商業(yè)分析到高級研究和高純度材料分析的應用,其重新定義了 ICP-MS 性能,可提供可靠的分析結果。

  • 更新時間:2023-04-18
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詳細介紹

安捷倫串聯(lián)四極桿電感耦合等離子體質譜儀 ICP-MS 8900

質譜儀安捷倫Agilent 8900 串聯(lián)四極桿 ICP-MS (ICP-MS/MS) 是行業(yè)中成功且應用廣泛的串聯(lián)電感耦合等離子體質譜儀。安捷倫Agilent 8900 ICP-MS/MS 提供了一系列配置,適合從常規(guī)商業(yè)分析到高級研究和高純度材料分析的應用,其重新定義了 ICP-MS 性能,可提供可靠的分析結果。

安捷倫串聯(lián)四極桿電感耦合等離子體質譜儀 ICP-MS 8900 系統(tǒng)具有與安捷倫市場當先的單四極桿 ICP-MS 系統(tǒng)相同的基質耐受性和穩(wěn)定性,并與超高效的氦 (He) 碰撞模式相結合。但 8900 系統(tǒng)增加了串聯(lián)質譜操作 (ICP-MS/MS),可對碰撞反應池 (CRC) 中的反應化學過程進行精確的控制,使其成為強大、靈活的多元素分析儀。利用 8900 ICP-MS/MS 控制干擾,讓您的結果可靠無疑。

 

特性

  • MS/MS 控制反應化學過程,可確保提供一致、可靠的結果,即使對于此前難以分析的元素(如 Si、P 和 S)也是如此
  • 反應化學過程可解決同量異位素重疊問題,這超出了高分辨率 ICP-MS 的能力
  • 四通道反應池氣體控制可提供快速、靈活的多模式操作
  • 一套預設方法簡化了常規(guī)分析的方法設置
  • 氦氣模式可簡單、有效地控制常見的多原子干擾
  • 穩(wěn)定的(低 CeO/Ce)等離子體,可提供出色的基質耐受性
  • 超高基質進樣 (UHMI) 技術可耐受總溶解固體量 (TDS) 高達 25% 的樣品
  • 高靈敏度和低背景為超痕量分析物提供了超低的檢測限
  • 通用性和高性能相結合,支持高級研究和要求苛刻的應用
  • 靈活的操作模式(母離子/產(chǎn)物離子掃描)支持對反應化學模式進行研究

 

串聯(lián)四極桿 ICP-MS 是一種用于元素分析的串聯(lián)質譜儀 (MS/MS)。ICP-MS/MS 在碰撞/反應池 (CRC) 前增加了一個額外的四極桿質量過濾器 (Q1),因此質譜干擾問題可以通過反應池氣體和氦氣 (He) 碰撞模式得到解決。為了在單位 (1 u) 質量分辨率下實現(xiàn)高離子傳輸效率,ICP-MS/MS 的兩個四極桿都必須在高真空條件下運行。ICP-MS/MS 尤其適用于那些采用單四極桿 ICP-MS 無法實現(xiàn)成功分析的高級應用。

串聯(lián)四極桿 ICP-MS (ICP-MS/MS) 電感耦合等離子體質譜儀工作原理

ICP-MS/MS 使用兩個四極桿質量過濾器對離子進行兩次過濾,Q1 位于 CRC 之前,Q2 位于 CRC 之后。雙重質量過濾 (MS/MS) 能夠控制 CRC 中用于解決質譜重疊干擾的反應過程。Q1 剔除目標分析物質量以外的所有離子,因此只有分析物離子和相同質量的干擾物能夠進入 CRC。反應池氣體將分析物離子與重疊離子分離,且不存在單四極桿 ICP-MS 中可能發(fā)生的其他元素或同位素形成新的重疊產(chǎn)物離子的風險。

串聯(lián)四極桿 ICP-MS (ICP-MS/MS) 電感耦合等離子體質譜儀的用途

ICP-MS/MS 適用于那些采用單四極桿 ICP-MS 無法實現(xiàn)理想分析的高要求應用。這些應用可能需要極低的檢測限,例如,檢測半導體制程化學品和高純度材料中的超痕量污染物或檢測極小的納米顆粒。ICP-MS/MS 可以利用 MS/MS 消除同量異位素干擾、雙電荷離子干擾、相鄰質量數(shù)重疊干擾以及高強度的多原子干擾。這種能力使它可以分析低濃度的非常規(guī)分析物,如 Si、P、S、Cl,甚至是 F。

串聯(lián)四極桿 ICP-MS (ICP-MS/MS) 的應用

高靈敏度和 MS/MS 模式 — 對半導體干擾實現(xiàn)出色的控制

ICP-MS/MS 為半導體和材料行業(yè)提供了更低的檢測限和更出色的干擾控制。當先制造商使用 8900 確保其高純度工藝化學品和材料的質量。

超高靈敏度、超低背景以及極短的 0.1 ms 駐留時間可確保準確檢測出最小納米顆粒 (NP)。MS/MS 可控制 Si 和 Ti 的干擾,從而實現(xiàn) SiO2 和 TiO2 NP 的低濃度分析。

反應氣體模式可分離地質年代學及核化學中的同質異位素重疊

MS/MS 控制碰撞/反應池中的化學反應,使研究人員能夠分離阻礙地球化學測量的同質異位素重疊。8900 可分離 204Hg 與 204Pb、87Rb 與 87Sr 以及 176Lu 與 176Hf 等重疊,實現(xiàn)準確的地質年代學同位素比值分析。
MS/MS 還可分離用于核研究和核退役測量的放射性核素的直接重疊,提高豐度靈敏度,分離峰拖尾重疊(如 238U 與 237Np)。

提供輕松應對生命科學新應用的性能和靈活性

安捷倫 ICP-MS/MS 儀器可以分離先前難以分析的元素(如 Cl、P 和 S)的光譜重疊和生命科學研究。使研究人員能夠對蛋白質和肽直接進行基于 S 和 P 雜元素的單獨化合物定量分析。

新型測量的執(zhí)行能力開辟了藥物開發(fā)、臨床研究和毒液組學等全新的研究領域。

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